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                2. 產品展示
                  PRODUCT DISPLAY
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                  XRF光譜儀可對鍍層的厚度與成分進行分析
                3. 發布日期:2022-02-07      瀏覽次數:74
                  • XRF可對鍍層厚度與成分進行快速、高效、無損和準確的分析。XRF光譜儀的主要部件:

                    1、X射線管:儀器的一部分,產生照射樣品的X射線。

                    2、光圈:光圈是引導X射線指向樣品的裝置的第一部分。XRF儀器中的光圈將決定光斑尺寸——正確的光圈選擇對精密度和測量效率至關重要。

                    3、探測器:與相關電子設備一并處理從樣品中激發出的X射線:探測X射線的能量和強度。

                    4、對焦系統:確保每次測量中X射線管、零部件和探測器間的X射線可測量且幾何光路連續一致;否則會導致結果不準確。

                    5、相機:幫助用戶精確定位測量區域。某些情形下相機用于向自動操作模塊提供圖像信息,或包括放大圖像以精確定位需要測量的區域。

                    6、樣品臺:樣品可放置于固定或可移動的樣品臺上??焖倩蚵僖苿訉τ谡业綔y試位置至關重要,隨后聚焦于準確的區域進行測量。工作臺移動的精準度是帶來測試定位準確的一個因素,并進而貢獻于儀器的整體準確度。

                     
                    EDX600 、Think800A X熒光鍍層測厚儀是集天瑞儀器多年鍍層測厚檢測技術和經驗,以獨特的產品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來滿足金屬鍍層及含量測定的需要,人性化的設計,使測試工作更加輕松完成。EDX600、Think800A 鍍層測厚儀使用高效而實用的正比計數盒和電制冷探測器,以實在的價格定位滿足鍍層厚度測量的要求,且的更具有現代感的外形、結構及色彩設計,使儀器操作更人性化、更方便。廣泛應用于金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定電鍍、PCB、電子電器、氣配五金、衛浴等行業。


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